Microscopio de fuerza atómica (AFM) para metereologia

Foro de discusión sobre los Microscopios Electrónicos, de rayos X, de barrido, de FLIM, de fuerza atómica, de iones....
Avatar de Usuario
megacam
Moderador Global
Moderador Global
Mensajes: 13577
Registrado: Enero 18th, 2009, 12:13 am
Ubicación: barcelona
Contactar:

Microscopio de fuerza atómica (AFM) para metereologia

Mensaje sin leer por megacam » Enero 20th, 2010, 9:57 am

Microscopio de fuerza atómica (AFM) para aplicación metereológica

Imagen

El XE-200 es un AFM con la capacidad creciente que apoya 200 milímetros de investigación de la oblea. Además de la exploración exacta el funcionamiento proporcionó por el modo sin contacto verdadero, los usuarios de las ofertas XE-200 una etapa XY codificada que viaja sobre los 200 milímetros enteros x 200 milímetros de área de la muestra, una gama XY agrandada de la exploración de 200 μ m x 200 μ m, y una gama de la exploración de Z de 25 μ m. También, las características de la automatización del industrial-grado del instrumento reducen al mínimo grandemente la participación requerida s del `del usuario durante la operación de sistema.

- Ayudas hasta la oblea de 8 pulgadas
- 200 μ × 200 μ de m; gama XY de la exploración de m
- 25 μ gama de la exploración de m Z
- recinto acústico del Industrial-grado con el marco de acero
- La etapa XY completamente motorizada viaja los 200 milímetros enteros de × 200 milímetros

[vlc]http://video.directindustry.es/video_di ... v/7887.flv[/vlc]

Responder

Volver a “Microscopios Electrónicos”

¿Quién está conectado?

Usuarios navegando por este Foro: No hay usuarios registrados visitando el Foro y 1 invitado